賽默飛ICP光譜儀的使用要在良好的環(huán)境下進行
賽默飛ICP光譜儀主要由進樣系統(tǒng)、電感耦合等離子體光源(ICP)、光譜儀的分光(色散)系統(tǒng)以及檢測器-光電轉(zhuǎn)換器件等部分組成。可同時檢測一個樣品中多種元素，分析速度快，固體樣品均可以直接分析，試樣多數(shù)不需要化學(xué)分析就可以處理，在幾分鐘內(nèi)可同時作幾十個元素的定量測定。由于電感耦合等離子體的新光源，檢出限可低至數(shù)量級，準(zhǔn)確度*，樣品消耗的少，對于高、中、低含量的不同元素都可以同時測定。
賽默飛ICP光譜儀的主要性能指標(biāo)是檢出限、短時間穩(wěn)定性、長時間穩(wěn)定性和儀器分辯率，測試這些指標(biāo)需要幾乎一整天的時間，好在這些指標(biāo)在儀器安裝調(diào)試時是必需要做的，考察儀器時，可以著重查看現(xiàn)有同類型儀器的實際驗收報告，以證實所考察儀器的性能指標(biāo)。
賽默飛ICP光譜儀一定要有良好的使用環(huán)境：
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在一定的環(huán)境下運行，失去這些條件，不僅儀器的使用效果不好，而且改變儀器的檢測性能，甚至造成損壞，縮短壽命。根據(jù)光學(xué)儀器的特點，對環(huán)境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大，光學(xué)元件受溫度變化的影響就會產(chǎn)生譜線漂移，造成測定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，一般室溫要求維持在20～25攝氏度間的一個固定溫度，溫度變化應(yīng)小于±1攝氏度。而環(huán)境濕度過大，光學(xué)元件，特別是光柵容易受潮損壞或性能降低。電子系統(tǒng)，尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞。濕度對高頻發(fā)生器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不容易點燃，重則高壓電源及高壓電路放電擊毀元件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等，以至損壞高頻發(fā)生器。一般室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應(yīng)有空氣凈化裝置。過去由于基建施工，我們的環(huán)境條件很差，甚至儀器室多次被水淹，受潮及室溫變化過大，儀器不是定位困難就是經(jīng)常發(fā)生故障。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運行就正常多了。
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